• SINO AGE DEVELOPMENT TECHNOLOGY, LTD.
    Πλαίσιο του Paul
    Σας ευχαριστούμε πάρα πολύ για όλη τη βοήθειά σας σχετικά με το συγκεκριμένο ελεγκτή σφυριών και σκληρότητας SADT που εργάζονται καλά και είμαστε πολύ ευτυχείς με το.
Υπεύθυνος Επικοινωνίας : Hu
Τηλεφωνικό νούμερο : 010-82600228

Ελεγκτής σκληρότητας TFT Leeb με τον έλεγχο καλωδίων και τον ασύρματο έλεγχο

Τόπος καταγωγής Πεκίνο
Μάρκα SADT
Πιστοποίηση CE ISO9001 SGS
Αριθμό μοντέλου HARTIP3210
Ποσότητα παραγγελίας min 1pc
Τιμή USD400-1400/Pcs
Συσκευασία λεπτομέρειες τυποποιημένη συσκευασία
Χρόνος παράδοσης Μέσα σε μια εβδομάδα μετά από να λάβει την πληρωμή
Όροι πληρωμής T/T ΕΚ ΤΩΝ ΠΡΟΤΕΡΩΝ, Western Union
Δυνατότητα προσφοράς 50pcs/week

Με ελάτε σε επαφή με δωρεάν δείγματα και δελτία.

Whatsapp:0086 18588475571

Wechat: 0086 18588475571

Skype: sales10@aixton.com

Εάν έχετε οποιαδήποτε ανησυχία, παρέχουμε τη 24ωρη σε απευθείας σύνδεση βοήθεια.

x
Λεπτομέρειες
Γλώσσα γλώσσα 10 Επίδειξη Μεγάλο χρώμα LCD TFT με το εικονοκύτταρο 320 X 240
Ακρίβεια +/2 HLD Εξεταστικό υλικό 11 υλικά μετάλλων
Αρχή Μέτρηση σκληρότητας Leeb Έλεγχος έλεγχος καλωδίων και ασύρματος έλεγχος
r/f απόσταση επικοινωνίας 10m στο διάστημα Εξουσιοδότηση 1 έτος
Πιστοποιητικό CE/ISO9001/SGS Όνομα leeb ελεγκτής σκληρότητας
Υψηλό φως

ασύρματος ελεγκτής σκληρότητας ελέγχων leeb

,

ελεγκτής σκληρότητας ελέγχων καλωδίων leeb

,

tft leeb ελεγκτής σκληρότητας

Αφήστε ένα μήνυμα
Περιγραφή προϊόντων

Φορητός Rockwell ελεγκτής σκληρότητας ακριβής για τα υλικά HARTIP3210 μετάλλων

HARTIP 3210 είναι μια νέα γενιά του ελεγκτή σκληρότητας με την περισσότερα προηγμένη τεχνολογία και χαρακτηριστικά γνωρίσματα. Ο ελεγκτής εφαρμόζει τη νέα τεχνολογία διπλωμάτων ευρεσιτεχνίας μας που καθιστά τον ελεγκτή ακριβέστερο από το παλαιό προηγούμενο πρότυπο. Όλη η συσκευή αντίκτυπου (έλεγχος) δεν είναι καμία ανάγκη στην κατεύθυνση αντίκτυπου οργάνωσης. Η εργασία HARTIP 3210can και με τη συσκευή αντίκτυπου αναλογίας και με το ασύρματο RF εξετάζει.


Οι τιμές μέτρησης μπορούν να μεταφορτωθούν στο PC και τον εκτυπωτή από το ραδιόφωνο ή από το καλώδιο.


Το HARTIP3210 μπορεί επίσης να τροφοδοτηθεί από USB την παροχή ηλεκτρικού ρεύματος χωρίς μπαταρία μέσω του καλωδίου PC.

 

ΜΕΘΟΔΟΣ ΜΕΤΡΗΣΗΣ

 

Η αρχή μέτρησης των ελεγκτών σκληρότητας σειράς HARTIP ορίζεται ως «το πηλίκο της ταχύτητας αναπήδησης και αντίκτυπου του σώματος αντίκτυπου, που πολλαπλασιάζεται με 1000.» Ένα σώμα αντίκτυπου με μια άκρη δοκιμής καρβιδίου βολφραμίου ωθείται από τη δύναμη άνοιξη ενάντια στην επιφάνεια δοκιμής και αναπηδά έπειτα πίσω. Ένας μόνιμος μαγνήτης περιλαμβάνεται μέσα στο σώμα αντίκτυπου. Όταν περνά μέσω της σπείρας στη συσκευή αντίκτυπου, προκαλεί μια ηλεκτρική τάση που είναι ανάλογη προς την ταχύτητα του σώματος αντίκτυπου.

 

ΚΥΡΙΑ ΧΑΡΑΚΤΗΡΙΣΤΙΚΑ

 

  • Ασύρματο ψηφιακό/αναλογικό συμβατό σύστημα καλωδίων
  • Καμία ανάγκη στη διαφορετική κατεύθυνση αντίκτυπου οργάνωσης
  • Υψηλότερη ακρίβεια at+/-2 HLD
  • Μεγάλο χρώμα LCD TFT με το εικονοκύτταρο 320 X 240
  • Πολύχρωμο ύφος – κατάλληλο κάτω από την ηλιοφάνεια
  • Πολυ τρόπος επίδειξης - στατιστικές, γραφική παράσταση φραγμών, κ.λπ.
  • Πολυ εκτός από τον τρόπο για τα στοιχεία
  • Πολυ υπολογισμός στατιστικών
  • Τυπωμένη ύλη on-line και έντυπο αντιγράφων οθόνης
  • Υγιής υπενθύμιση
  • Πραγματικοί ημερομηνία και χρόνος
  • Επαναδιακρίβωση για την ενοποιημένη ή μεμονωμένη κλίμακα
  • Χειριστής, αριθμός μερών, διαδικασία κανένα αρχείο

 

Προδιαγραφές

 

Πρότυπο SADT HARTIP 3210
Αρχή Μέτρηση σκληρότητας Leeb
Ακρίβεια ±0.3% @ HL=800, επανάληψη: ±2HL
Επίδειξη 2.8» χρώμα LCD 320 X 240 TFT - fittable κατώτερη ηλιοφάνεια
Κλίμακα σκληρότητας HL/HRC/HRB/HB/HV/HS/HRA/ΣB
Μέτρηση της σειράς HL100-960/HRC0.9-83.2/HRB1-140/HB1-1878/HV1-1698/
HS0.5-1370/HRA1-88.5/σb (rm) 16599N/mm ²
Έλεγχος r/f ασύρματος έλεγχος Δ/τυποποιημένος έλεγχος Δ καλωδίων
Συνεχές ρεύμα/D+15/Γ/Γ/Ε/DL (προαιρετικό)
Υλικά 11 κοινά υλικά μετάλλων, 60 καμπύλες μετατροπής
Μνήμη 63 αρχεία, 100 στοιχεία για κάθε αρχείο, μπορούν να σωθούν και επαν-αναγνώσιμος
Λειτουργία στατιστικών Ενιαία ανάλυση ομάδας -- σημάνετε, μέγιστη, ελάχιστη, ακραία απόκλιση,
σταθερή απόκλιση, συντελεστής kurtosis, συντελεστής της εκτροπής,
τοις εκατό του περάσματος, διάγραμμα στηλών, δοκιμή διανομής κανονικότητας και
ομοιόμορφη δοκιμή διανομής
Διπλή ανάλυση ομάδας-- σημαντική δοκιμή διαφοράς για τη μέση αξία,
σταθερή απόκλιση, τοις εκατό του περάσματος και διανομή
Επαναδιακρίβωση Βαθμολόγηση για την ενοποιημένη ή μεμονωμένη κλίμακα
Δείκτης Ανώτερο όριο/χαμηλότερο όριο/χαμηλή μπαταρία/προειδοποίηση/ημερομηνία και χρόνος σειρήνων
Γλώσσα Τα αγγλικά, απλουστευμένα κινέζικα, παραδοσιακό κινέζικο, ρωσικά,
Κορεατικά, γαλλικά, ιταλικά, γερμανικά, τουρκικά, ισπανικά
Επικοινωνία Ραδιόφωνο USB/RS232/Bluetooth/2.4G (προαιρετικό)
Συνεχής χρόνος απασχόλησης >40 ώρες
Παροχή ηλεκτρικού ρεύματος 1.5V αλκαλική μπαταρία Χ AA νικέλιο-υδρογόνο 4/1.2V rechargerable
μπαταρία Χ 4/3.7VLi-ιονική επαναφορτιζόμενη μπαταρία Χ παροχή ηλεκτρικού ρεύματος 4/USB
Εργασιακό περιβάλλον -10~+45ºC
Διάσταση (χιλ.) 195x84x38
Καθαρό βάρος (ζ) 550
Πρότυπα Προσαρμομένος σε ASTM A956, DIN 50156, GB/T 17394-199

 

 

Απαιτήσεις σχετικές με το βάρος δειγμάτων

  • Για τα δείγματα που ζυγίζουν πάνω από 5 κλ και της συμπαγούς μορφής, καμία υποστήριξη δεν απαιτείται.
  • Τα δείγματα που ζυγίζουν μεταξύ 2-5 κλ, και επίσης για τα βαρύτερα δείγματα με τα προεξέχοντα μέρη ή τους λεπτούς τοίχους, πρέπει να τοποθετηθούν σε μια στερεά υποστήριξη με έναν τέτοιο τρόπο που δεν κάμπτουν ή δεν κινούν από τη δύναμη αντίκτυπου.
  • Τα δείγματα που ζυγίζουν λιγότερο από 2 κλ πρέπει να συνδεθούν σταθερά με μια σταθερή υποστήριξη που ζυγίζει πάνω από 5 κλ.
  • Για λόγους συζεύξεων,
    • Η επιφάνεια συζεύξεων μεταξύ του δείγματος και του πιάτου βάσεων πρέπει να είναι επίπεδος, παράλληλος αεροπλάνων και έδαφος.
    • Ένα κατάλληλο λεπτό στρώμα της κόλλας συζεύξεων πρόκειται να εφαρμοστεί στην επιφάνεια επαφών του δείγματος.
    • Το δείγμα πρέπει να πιεστεί σταθερά ενάντια στην επιφάνεια πιάτων βάσεων με την κίνηση του με μια κυκλική κίνηση.
    • Η κατεύθυνση του αντίκτυπου πρέπει να είναι κάθετη στην επιφάνεια συζεύξεων.
  • Για τη λειτουργία συζεύξεων, οι ακόλουθες προϋποθέσεις πρέπει να εκπληρωθούν:
    • Η επιφάνεια επαφών μεταξύ του δείγματος και του πιάτου βάσεων πρέπει να είναι επίπεδος, παράλληλος αεροπλάνων και έδαφος.
    • Η κατεύθυνση του αντίκτυπου δοκιμής πρέπει να είναι κάθετη στη συνδεμένη επιφάνεια.
    • Το ελάχιστο πάχος του δείγματος για τη σύζευξη κάτω από τις διάφορες συσκευές αντίκτυπου παρουσιάζεται στην ακολουθία του πίνακα:

 

Τύποι συσκευών αντίκτυπου Ελάχιστο πάχος
D/DC, D+15, DL, Ε 3mm
Γ 10mm
Γ 1mm

 

 

 

Ελεγκτής σκληρότητας TFT Leeb με τον έλεγχο καλωδίων και τον ασύρματο έλεγχο 0Ελεγκτής σκληρότητας TFT Leeb με τον έλεγχο καλωδίων και τον ασύρματο έλεγχο 1

 

Ελεγκτής σκληρότητας TFT Leeb με τον έλεγχο καλωδίων και τον ασύρματο έλεγχο 2

Ελεγκτής σκληρότητας TFT Leeb με τον έλεγχο καλωδίων και τον ασύρματο έλεγχο 3

Ελεγκτής σκληρότητας TFT Leeb με τον έλεγχο καλωδίων και τον ασύρματο έλεγχο 4

Ελεγκτής σκληρότητας TFT Leeb με τον έλεγχο καλωδίων και τον ασύρματο έλεγχο 5